1.脈沖電流的熱效應與機械疲勞
脈沖電流會在熔斷器內(nèi)部產(chǎn)生熱循環(huán)（ThermalCycling），導致以下影響：
熱應力積累：每次脈沖電流通過時，熔斷器的熔絲會因焦耳熱（I2R）而升溫，隨后冷卻，反復的熱脹冷縮會導致材料疲勞。
機械疲勞：長期的熱循環(huán)可能使熔斷體內(nèi)部結(jié)構(gòu)逐漸劣化，最終影響其熔斷特性和使用壽命。
2.脈沖I2T與熔斷器額定I2T的關(guān)系
熔斷器的設計需確保脈沖I2T值遠小于其標稱熔斷I2T值（即熔斷器熔斷所需的熱能量）。兩者的比值U決定了熔斷器能承受的脈沖次數(shù)：
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可承受脈沖次數(shù) | U=脈沖I2T/熔斷器I2T（%） |
100,000次 | ≤20% |
10,000次 | ≤30% |
1,000次 | ≤40% |
?
關(guān)鍵說明：
U值越小，熔斷器能承受的脈沖次數(shù)越多，壽命越長。
脈沖間隔必須足夠長，以確保前一次脈沖產(chǎn)生的熱量充分散逸，避免累積效應導致過早失效。
3.典型脈沖波形的I2T近似計算公式
矩形波（Square）：I2T=Ip2.t
三角波（Triangular）：I2T=?Ip2.t
指數(shù)衰減波（Exponential）： I2T=?Ip2.t
注：Ip=脈沖峰值電流,t=脈沖持續(xù)時間
4.設計建議
選擇恩彼邁跌落式熔斷器時：需根據(jù)實際脈沖電流的I2T值，確保其不超過熔斷器標稱I2T的20%~40%（具體取決于所需壽命）。
散熱要求：在高頻脈沖應用中，需保證足夠的冷卻時間，或選用散熱性能更好的熔斷器。
驗證測試：對于關(guān)鍵電路，建議通過實際脈沖老化測試驗證熔斷器的耐久性。
5.結(jié)論
脈沖電流是影響熔斷器壽命的關(guān)鍵因素，設計時應嚴格控制脈沖I2T與熔斷器I2T的比值（U），并確保足夠的散熱時間。通過合理選型和計算，可顯著提升熔斷器在脈沖負載下的可靠性。
